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                讓你秒懂局放測(cè)試儀的術(shù)語(yǔ)介紹

                發(fā)布時(shí)間:2019-03-25 瀏覽數(shù):161

                       很多人對(duì)局部放電測(cè)試儀有一些了解,在進(jìn)行局放試驗(yàn)的時(shí)候經(jīng)常會(huì)涉及到一些相關(guān)術(shù)語(yǔ),下面國(guó)電中星簡(jiǎn)單為您介紹一下,讓您秒懂局放測(cè)試儀。

                JF-2002局部放電檢測(cè)儀.jpg

                一、局部放電

                        局部放電是指在絕緣的局部位置放電,不會(huì)造成整個(gè)絕緣的貫通性擊穿。局部放電包含內(nèi)部放電(在介質(zhì)內(nèi)部)、沿面放電(在介質(zhì)表面)、電暈放電(在電極尖端)三種放電形式。

                二、電荷量q

                        在試品兩端瞬時(shí)注入一定電荷量,使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同,此注入量即為局部放電的視在電荷量。

                三、視在放電量校準(zhǔn)器

                        視在放電量校準(zhǔn)器是一標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器,試驗(yàn)前它以輸出某固定電量加之試品兩端,模擬該試品在此電量下放電時(shí)局部放電測(cè)試儀的響應(yīng),此時(shí)調(diào)整刻度系數(shù),確定局部放電檢測(cè)儀的量程,以便在試驗(yàn)時(shí)測(cè)量該試品在額定電壓下的視在放電量。因該放電量時(shí)以標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器比較后間接測(cè)出,而非直接測(cè)出,故此放電量稱為“視在放電量”。

                四、檢測(cè)阻抗

                        檢測(cè)阻抗是拾取檢測(cè)信號(hào)的裝置,在使用中,應(yīng)根據(jù)不同的測(cè)試目的,被試品的種類來(lái)選擇合適的檢測(cè)阻抗,以提高局部放電測(cè)量的靈敏度、分辨能力、波形特性及信噪比。

                五、時(shí)間窗(門單元)

                        時(shí)間窗是為防止大于局部放電的干擾信號(hào)進(jìn)入峰值檢波電路而設(shè)計(jì)的一種電路裝置。因在實(shí)際試驗(yàn)時(shí),尤其是在現(xiàn)場(chǎng)做試驗(yàn)時(shí),不可避免地會(huì)引入一些干擾,所以,時(shí)間窗的使用尤為重要。

                        國(guó)電中星是電力檢測(cè)設(shè)備生產(chǎn)廠家,生產(chǎn)的JF-2002局部放電檢測(cè)儀銷量領(lǐng)先,并受到廣大用戶的一致好評(píng)。國(guó)電中星產(chǎn)品種類多,型號(hào)全,歡迎選購(gòu)!

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